Тип публикации: статья из журнала
Год издания: 2025
Идентификатор DOI: 10.61011/PJTF.2025.04.59844.20134
Ключевые слова: magnetic resonance, exchange interaction, three-layer films, Biquadratic interaction, магнитный резонанс, обменное взаимодействие, трехслойные пленки, биквадратичное взаимодействие
Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований методом электронного магнитного резонанса трехслойных пленок CoNi/Si/FeNi, где один слой является магнитожестким, а другой --- магнитомягким. Обнаружено, что введение немагнитной полупроводниковой прослойки кремния существенно влияет на межслоевое взаимодействие. При изучении уПоказать полностьюгловых зависимостей резонансных полей, относящихся к разным подсистемам, получено прямое наблюдение биквадратичного межслоевого взаимодействия, величина которого зависит как от толщины прослойки кремния, так и от температуры измерения. The paper presents the results of experimental studies using the electron magnetic resonance method of three-layer CoNi/Si/FeNi films, where one layer is magnetically hard and the other is magnetically soft. It was found that the introduction of a non-magnetic semiconductor silicon interlayer significantly affects the interlayer interaction. When studying the angular dependences of the resonance fields related to different subsystems, a direct observation of the biquadratic interlayer interaction was obtained, which value depends both on the thickness of the silicon interlayer and on the measurement temperature.
Журнал: Письма в Журнал технической физики
Выпуск журнала: Т.51, №4
Номера страниц: 46-49
ISSN журнала: 03200116
Место издания: Санкт-Петербург
Издатель: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук