Тип публикации: доклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций
Конференция: Актуальные проблемы авиации и космонавтики; Красноярск; Красноярск
Год издания: 2025
Ключевые слова: электронная компонентная база, испытательный технический центр, методы кластерного анализа, electronic components, testing technical center, cluster analysis methods
Аннотация: В статье рассматривается подход к практическому применению методов кластерного анализа при дополнительных испытаниях электронной компонентной базы для космических аппаратов в испытательных технических центрах, позволяющий повысить надежность и качество поставляемой продукции. формирует партию ЭКБ, состоящую из элементов с максимальПоказать полностьюно возможными однородными характеристиками. 2) Формирование состава «специальных партий» в ИТЦ. В этом случае завод-изготовитель отправляет в ИТЦ партию ЭКБ заведомо большего объема, чем требуется. ИТЦ, на основе измерений характеристики элементов, формирует партию ЭКБ требуемого объема из элементов с максимально возможной однородностью характеристик. Остальные элементы отправляет обратно на завод-изготовитель. В зависимости от предпочтений и возможностей завода-изготовителя выбирается одна из двух предложенных стратегий. Применение современных методов обработки информации, в частности методов кластерного анализа, позволяет повысить эффективность технологии формирования ЭКБ космического применения. Особенно ценным инструментом являются алгоритмы АГ электронных компонентов в соответствии с принадлежностью к разным производственным партиям, особенно в настоящее время, в условиях сложных логистических схем поставок ЭКБ. The article discusses an approach to the practical application of cluster analysis methods in additional testing of the electronic component base for spacecraft in test technical centers, which allows increasing the reliability and quality of the supplied products.
Журнал: Актуальные проблемы авиации и космонавтики
Номера страниц: 161-163
Место издания: Красноярск